在芯片设计与制造日益复杂的今天，测试技术正面临前所未有的挑战。如何在保证测试精度的同时提升效率，成为整个半导体产业链关注的焦点。作为技术先锋，爱德万测试将于8月28日亮相西门子EDA Forum 2025，展示前沿的测试技术与创新解决方案，助力业界共同迎接下一代智能芯片的挑战。
与爱德万测试面对面
时间：2025年8月28日（周四）
地点：上海鲁能JW万豪侯爵酒店（浦东新区浦明路988号）
立即报名：Siemens EDA Forum 2025
技术专家解析
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